Фотоэлектронные рентгеновские спектрометры фирмы JEOL

Фотоэлектронные рентгеновские спектрометры для микроанализа поверхности (X-ray Photoelectron Spectrometer) для исследования поверхности производства компании JEOL (Япония)

JEOL Ltd. - мировой лидер в производстве и разработке сканирующих (растровых) электронных микроскопов (РЭМ), просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), анализаторов поверхности (ОЖЕ микроанализаторы, фотоэлектронные спектрометры, электронно-зондовые микроанализаторы EPMA), системы с фокусированным ионным пучком, масс-спектрометров, спектрометров ядерного магнитного резонанса (ЯМР) и систем электронно-лучевой литографии для производства полупроводниковых приборов.

 

 

Фотоэлектронный спектрометр JEOL JPS-9200

Новая разработка в области фотоэлектронной спектроскопии (X-ray Photoelectron Spectrometer) для микроанализа поверхности.

 

 

 

 

Фотоэлектронный спектрометр JEOL JPS-9010 series

Фотоэлектронный XPS (X-ray Photoelectron Spectrometer) микроанализа поверхности.

 

 

 

 

 

Пришлите нам запрос на интересующий Вас анализатор по электронной почте (info@eavangard-micro.ru, или по факсу +7 (495) 482 0674 для отдела оборудования для микроэлектроники и мы подготовим и направим Вам коммерческое предложение в кратчайшие сроки.