Notice: Undefined index: jeoljsmit300 in /home/eavangard/eavangard-micro.ru/docs/index.php on line 6
ООО "ЭНЕРГОАВАНГАРД" |

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JSM-IT300

JEOL JSM-IT300 - универсальный сканирующий (растровый) электронный микроскоп (РЭМ) производства компании JEOL (Япония)

 

JEOL Ltd. - мировой лидер в производстве и разработке сканирующих (растровых) электронных микроскопов (РЭМ), просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), анализаторов поверхности (ОЖЕ микроанализаторы, фотоэлектронные спектрометры, электронно-зондовые микроанализаторы EPMA), системы с фокусированным ионным пучком, масс-спектрометров, спектрометров ядерного магнитного резонанса (ЯМР) и систем электронно-лучевой литографии для производства полупроводниковых приборов.

 

JEOL JSM-IT300 - новый высокопроизводительный многофункциональный растровый электронный микроскоп. Прибор оборудован новой улучшенной электронно-оптической системой, позволяющей получать изображения высокого качества.

 

На корпусе микроскопа предусмотрено множество портов, это позволяет одновременно устанавливать различные дополнительные системы анализа системы такие как: система энергодисперсионного анализа, система волнодисперсионного анализа и система дифракции обратно-рассеяных электронов или несколько детекторов энергодисперсионного анализа, что превращает микроскоп в универсальный аналитический комплекс. Так же возможна установка системы катодолюминисценции, рентгеновской томографии, различные системы индентирования и.т.д.

 

Микроскоп оборудован большой камерой образцов, позволяющей исследовать образцы диаметром до 300 мм и высотой 80 мм. Полностью автоматизированный эвцентрический, асинхронный, пяти осевой моторизованный столик может выдерживать вес образца до 2 килограмм включительно, это позволяет исследовать массивные образцы без их предварительного деления.

 

Новая рабочая среда микроскопа удобна и интуитивно понятна. Управление микроскопом может осуществляться с сенсорного экрана, что позволяет легко и быстро выполнять нужные действия

 

В микроскопе JEOL JSM-IT300 реализована функция съемки образцов в режиме низкого вакуума. Давление в камере образцов может варьироваться в пределах от 10 до 650 Па. Это позволяет проводить исследование непроводящих биологических образцов без предварительной пробоподготовки.

 

 

 

Технические  характеристики:

 

 

Ускоряющее напряжение

0.3-30 кВ

Разрешение (Режим высокого вакуума)

3,0 нм (30 кВ) 15нм(1кВ)

Разрешение (Режим низкого вакуума)

4,0 нм (30 кВ)

Увеличение

x5- x300 000

Ток пучка

1 пА—1 мкА

Предметный столик

Эвцентрический гониометрический столик

Моторизованный по 5-ти осям

Диапазон перемещений: X: 125 мм, Y: 100мм, Z: 80 мм.

Наклон: от -10 до 90°

Вращение: 360°

Максимальный размер образца

200 мм в диаметре, 80 мм в высоту,

 

редельный вес: 2 кг.

Формат файлов изображений

BMP, TIFF или JPEG

 

Компьютер

ПК (настольный ПК), ОС Windows®7

Дисплей

23-дюймовый ЖК-монитор (с сенсорной

 

 панелью)

Вакуумная система

Полностью автоматизирована:

Турбомолекулярный насос — 1 шт

Форвакуумный ротационный насос — 1 шт

Пришлите нам запрос на интересующий Вас сканирующий электронный микроскоп по электронной почте (info@eavangard-micro.ru, или по факсу +7 (495) 482 0674 для отдела оборудования для микроэлектроники и мы подготовим и направим Вам коммерческое предложение в кратчайшие сроки.