Сканирующие (растровые) электронные микроскопы JEOL

Сканирующие (растровые) электронные микроскопы (РЭМ) производства компании JEOL (Япония)

 

JEOL Ltd. - мировой лидер в производстве и разработке сканирующих (растровых) электронных микроскопов (РЭМ), просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), анализаторов поверхности (ОЖЕ микроанализаторы, фотоэлектронные спектрометры, электронно-зондовые микроанализаторы EPMA), системы с фокусированным ионным пучком, масс-спектрометров, спектрометров ядерного магнитного резонанса (ЯМР) и систем электронно-лучевой литографии для производства полупроводниковых приборов.

 

Сканирующие (растровые) электронные микроскопы предназначены для проведения исследований микро- и нано-структуры поверхности различных образцов. Базовое оснащение сканирующих электронных микроскопов позволяет изучать морфологию поверхности образца, проводить измерения размеров, формы, ориентации и других параметров микро- и нано-объектов в диапазоне размеров от нескольких сантиметров до долей нанометров с увеличениями более 1 млн. крат.

 

Если дооснастить прибор специализированными аналитическими приставками, появляется возможность изучать не только морфологию, но и элементный состав образцов, изучать ориентацию микрокристаллов, строить карты распределения химических элементов по площади образца и др.

К таким приставкам, прежде всего, относятся спектрометры с дисперсией по энергиям (ЭДС) и по длинам волн (ВДС), а также системы регистрации и анализа картин дифракции обратно-рассеянных электронов (ДОРЭ).

 

- ЭДС позволяют проводить экспресс-анализ элементного состава образца,

- ВДС-анализ требует значительно больше времени, но позволяет получать данные с более высокой точностью (предел обнаружения ВДС по легким элементам выше, чем ЭДС на 2 порядка)

- ДОРЭ-анализ позволяет изучать структуру и текстуру кристаллических материалов.

 

Японская фирма JEOL (Japanese Electron Optics Laboratory), имеющая самый большой в мире опыт производства электронных микроскопов, является признанным мировым лидером в этой области. Ей принадлежит около 50% всего рынка электронных микроскопов. Российские специалисты работают на технике JEOL с 50-х годов 20 века и высоко ценят ее за высочайшие технические характеристики, надежность, неприхотливость, низкую стоимость эксплуатационных расходов.

 

Помимо микроскопов JEOL предлагает всю линейку приборов для пробоподготовки, оптимизированных для проведения тех или иных исследований с помощью РЭМ.

 

С учетом высокого спроса на продукцию фирмы JEOL в России, с 2005 года в Москве работает заводской сервисный центр JEOL , который осуществляет обслуживание всего поставляемого оборудования силами японских и русских сервисных инженеров. Также в Москве имеется склад запчастей и расходных материалов, которые могут быть поставлены по требованию заказчика в течение считанных дней.

 

Сканирующие (растровые) микроcкопы JEOL (Япония): 

 

Растровые электронные микроскопы JEOL с полевой эмиссией:

 

Аналитический растровый электронный микроскоп высокого разрешения JEOL JSM 7800F (катод Шоттки)

 

Новейший аналитический растровый электронный микроскоп JEOL JSM-7600F (катод Шоттки)

 

Автоэмиссионный растровый электронный микроскоп JEOL JSM-7500F

 

Аналитический растровый электронный микроскоп JEOL JSM-7100F (катод Шоттки)

 

 

Термоэмиссионные растровые электронные микроскопы JEOL:

 

Универсальный растровый электронный микроскоп JEOL JSM-IT300

 

Универсальный растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6510

 

Компактный растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6010

 

Настольный растровый электронный микроскоп JEOL JCM-6000

 

Пришлите нам запрос на интересующий Вас сканирующий электронный микроскоп по электронной почте (info@eavangard-micro.ru, или по факсу +7 (495) 482 0674 для отдела оборудования для микроэлектроники и мы подготовим и направим Вам коммерческое предложение в кратчайшие сроки.